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GB/T 2423.1-2008與GB/T 2423.2-2008標(biāo)準(zhǔn)

作者:林頻儀器發(fā)布時間:2023-02-07 15:06

GB/T 2423.1-2008和GB/T 2423.2-2008是國家標(biāo)準(zhǔn),主要針對電子和電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗。
 
1.范圍不同:GB/T 2423.1-2008標(biāo)準(zhǔn)主要針對電子產(chǎn)品環(huán)境試驗的基本要求,如試驗環(huán)境、試驗程序等。而GB/T 2423.2-2008標(biāo)準(zhǔn)則更加具體,針對電子產(chǎn)品的各種環(huán)境試驗,如溫度、濕度、振動、沖擊等試驗的具體要求。
 
2.內(nèi)容不同:GB/T 2423.1-2008標(biāo)準(zhǔn)提出了電子產(chǎn)品環(huán)境試驗的基本原則,如試驗環(huán)境的穩(wěn)定性、試驗的簡明性等;而GB/T 2423.2-2008標(biāo)準(zhǔn)則更加詳細,介紹了電子產(chǎn)品環(huán)境試驗的各種詳細方法和要求。
 
因此,GB/T 2423.1-2008和GB/T 2423.2-2008標(biāo)準(zhǔn)分別針對電子產(chǎn)品環(huán)境試驗的基本要求和具體試驗方法,應(yīng)結(jié)合使用,以確保電子產(chǎn)品環(huán)境試驗的準(zhǔn)確性和有效性。
 

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